Конференції
  1. Головна
  2. Структура
  3. Фізико-хімія і технології наноструктурних і функціональних матеріалів
  4. 44. Відділ прикладної математики та обчислювального експерименту в матеріалознавстві
  5. Картузов В.В.
  6. Публікація

Стійкість компьютерної програми обчислення мультифрактальних характеристик двовимiрних зображень

І.Є.Красікова,
 
В.В.Картузов,
 
І.В.Красіков
 

Інститут проблем матеріалознавства ім. І. М. Францевича НАН України , вул. Омеляна Пріцака, 3, Київ, 03142, Україна
Математичні моделі і обчислювальний експеримент в матеріалознавстві - Київ: ІПМ ім.І.М.Францевича НАН України, 2017, #19
http://www.materials.kiev.ua/article/2737

Анотація

На модельному об’єкті досліджено стійкість розробленої авторами комп’ютерної програми для обчислення мультифрактальних характеристик двовимiрних зображень по відношенню до спотворень, моделюючих різні недосконалості та дефекти при отриманні зображень методами електронної мікроскопії.


КИЛИМ СЕРПІНСЬКОГО, РЕАЛІЗАЦІЯ АЛГОРИТМУ, СТІЙКІСТЬ МОДЕЛІ, СТРУКТУРА, ФРАКТАЛЬНА РОЗМІРНІСТЬ