Застосування методу Рітвельда для аналізу дифрактометричних даних при високотемпературному ”іn – situ” дослідженні

Анотація

Розглянуто основні систематичні похибки при високотемпературному дифракційному експерименті які впливають на точність визначення положення та інтенсивностей рентгенівських максимумів. Для врахування розглянутих факторів запропоновано використання методу повнопрофільного аналізу. З цією метою створено пакет програм для апроксимації дифракційних картин з уточненням методом прямого пошуку.