ВИЗНАЧЕННЯ РОЗМІРІВ НАНОСТРУКТУРНИХ ЕЛЕМЕНТІВ В ГРАНУЛЬОВАНИХ КОМПОЗИЦІЙНИХ ПЛІВКАХ ПРОВОДНИК–ДІЕЛЕКТРИК: РОЗРАХУНОК ТА АТОМНА СИЛОВА МІКРОСКОПІЯ

Анотація

Досліджено гранульовані композиційні плівки на основі ВаВ₆–LaB₆, Sn_0,9Sb_0,1O₂ та алюмоборосилікатного скла, виготовлені методом трафаретного друку із наступною термообробкою. Для визначення товщини нанорозмірних діелектричних прошарків між частинками струмопровідної фази, що визначають механізм електропровідності й властивості плівок, використано оригінальний розрахунковий метод. Для оцінки достовірності отриманих результатів плівкові структури вивчено методом атомної силової мікроскопії. Розрахункові дані знаходяться у добрій відповідності з експериментом. Метод може бути використаний при дослідженні структури та властивостей нових композиційних матеріалів провідник–діелектрик.